為專門滿足材料科學、微型機械學、電子學和生物應用的需求，一套高分辨率計算機斷層成像分析系統已經被開發出來了，并擁有緊湊的設計。

由鳳凰X光系統和服務公司（Anaheim， CA， USA； www.phoenix-xray.com）開發的nanotom CT系統，是一個160千伏的超微聚焦CT系統。這種非常緊湊的系統包括一個花崗巖基質的CT構造，并帶有一支鳳凰X光公司的160千伏高能超微聚焦X光管，以及一個體素分辨率小于500納米（0.5微米）的特殊數字探測器。這個近乎完美的數字探測器分辨率高達5兆像素，具有極高的測量擴展范圍。

該系統可檢測樣品直徑的最大尺寸可達120毫米（4.7英寸），樣品重量可達1公斤（2.2磅）。特別設計的門式結構和精密樣品盛裝器使得樣品定位精確而簡單。Nanotom CT系統采用了最新的鳳凰X光CT軟件datos-x。這款軟件提供簡單而直觀的操作，所需要的培訓很少。由于軟件的高效性，在任何時候它都可提供良好的圖像質量和體層重建。高效的計算機組進一步縮短了重建時間。

該系統特別適合于進行傳感器的三維（3D）檢測、復雜機電一體化樣品和微電子產品配件的檢測，也適合檢測各種類型的材料樣品，如合成材料、陶瓷、復合材料和巖石等等。鳳凰-X光公司是微聚焦和超微聚焦X光系統、X光管和CT系統的領先制造商。

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