梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU

梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU產品介紹

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能，完全滿足基礎稱量應用：在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中最佳的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。

梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU 技術指標

可讀性	0.01 mg/0.001 mg
最大稱量值	3.1 g/ 0.8g
重復性 - 加載處	0.006 mg/ 0.001 mg
- 低加載（加載處）	0.005 mg (0.2 g)/ 0.0008 mg (0.2 g)
線性誤差	0.004 mg
典型值 4)
典型重復性（sd）	0.0005 mg +1.2 x (10–7)?R_gr
典型微分非線性（sd）	√2x(10-12)g·R_nt
典型靈敏度偏移（sd）2)	3x(10-6)· R_nt
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)	0.1 mg+2.4 x (10–6)?R_gr
典型穩定時間	< 6 sec
穩定時間	< 10 sec

1. 根據OIML R76
2. 在10到30°C的溫度范圍內
3. 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性
4. 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年
5. 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。

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